Názvové údaje : Impact of sputtering power on trace impurities in binary oxides: A ToF-ERDA characterization study / aut. Filip Ferenčík, Jozef Dobrovodský, Zoltán Száraz, Pavol Noga Variant(y) hesla : \q12*stu_us_auth*1 0039864 \q \q1013 stu_us_auth*0039864 \d Ferenčík Filip \q ; 067000  %continue : \q12*stu_us_auth*1 stu130168 \q \q1013 stu_us_auth*stu130168 \d Dobrovodský Jozef \q ; 067000 \q12*stu_us_auth*1 stu36703 \q \q1013 stu_us_auth*stu36703 \d Száraz Zoltán \q ; 067000 \q12*stu_us_auth*1 stu57324 \q \q1013 stu_us_auth*stu57324 \d Noga Pavol \q ; 067000 In : \q12**1 0111309 \q %continue : DMSRE 2024 %continue : . S. 29 Druh dok. : článok zo zborníka Kategória : BFB - Abstrakty odborných prác z domácich podujatí (konferencie...) Kategória od 2022 : O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníka