Košík

  Odznačiť vybrané:   0
  1. Impact of sputtering power on trace impurities in binary oxides: A ToF-ERDA characterization study / aut. Filip Ferenčík, Jozef Dobrovodský, Zoltán Száraz, Pavol Noga
    Ferenčík Filip ; 067000  Dobrovodský Jozef ; 067000 Száraz Zoltán ; 067000 Noga Pavol ; 067000
    DMSRE 2024 . S. 29
    článok zo zborníka
    BFB - Abstrakty odborných prác z domácich podujatí (konferencie...)
    O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníka
    článok

    článok


  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.