Impact of sputtering power on trace impurities in binary oxides: A ToF-ERDA characterization study /

Počet záznamov: 1

Impact of sputtering power on trace impurities in binary oxides: A ToF-ERDA characterization study

Údaje o názve	Impact of sputtering power on trace impurities in binary oxides: A ToF-ERDA characterization study / aut. Filip Ferenčík, Jozef Dobrovodský, Zoltán Száraz, Pavol Noga
Záhlavie-meno	Ferenčík, Filip, 1996- (Autor) - MTF Ústav výskumu progresívnych technológií
Ďal.zodpovednosť	Dobrovodský, Jozef, 1955- Z2 (Autor) - MTF Ústav výskumu progresívnych technológií
	Száraz, Zoltán, 1981- Z2 (Autor) - MTF Ústav výskumu progresívnych technológií
	Noga, Pavol, 1982- Z2 (Autor) - MTF Ústav výskumu progresívnych technológií
In	DMSRE 2024 [86 str.] / Behúlová, Mária. -- Bratislava : FCHPT STU, 2024. -- ISBN 978-80-8208-129-2 (printed). -- S. 29
Jazyk dok.	angličtina
Druh dok.	RZB - článok zo zborníka
Kategória	BFB - Abstrakty odborných prác z domácich podujatí (konferencie...)
Kategória od 2022	O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníka
Typ výstupu	abstrakt z podujatia
Rok	2024

článok

citace PRO

Počet záznamov: 1