The High-Frequency Characterization Of InAlGaN/GaN HEMT utilizing RF Measurements / aut. Martin Florovič, Michal Dzuriš, Jaroslav jr Kováč, René Harťanský, Aleš Chvála, Soňa Kováčová, Jaroslav Kováč
Florovič Martin ; 033000  Dzuriš Michal ; 034000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Harťanský René ; 034000 Chvála Aleš ; 033000 Kováčová Soňa ; 033000 Kováč Jaroslav ; 033000
ADEPT 2024 : . S. 49-52
HEMT GaN DC and RF measurements S-parameters
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka