Počet záznamov: 1
The High-Frequency Characterization Of InAlGaN/GaN HEMT utilizing RF Measurements
SYS 0110283 LBL 00000naa--22^^^^^-a-4500 003 SK-STU 005 20240628161540.6 007 ta 008 240628s^^^^-----------e------000-0-----d 035 $a biblio/1187242 $2 CREPC2 040 $a STU $b slo 041 0-
$a eng 100 1-
$7 stu_us_auth*stu45730 $a Florovič, Martin, $d 1978- $u 033000 $4 aut $r Z2 $9 40 $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 4824 $U E030 $Y 549 242 01
$a Vysokofrekvenčná charakterizácia InAlGaN/GaN HEMT tranzistora pomocou RF meraní $y eng 245 10
$a The High-Frequency Characterization Of InAlGaN/GaN HEMT utilizing RF Measurements / $c aut. Martin Florovič, Michal Dzuriš, Jaroslav jr Kováč, René Harťanský, Aleš Chvála, Soňa Kováčová, Jaroslav Kováč 650 04
$7 stu_us_auth*stus1433 $a HEMT 650 04
$7 stu_us_auth*stus18930 $a GaN 650 04
$7 stu_us_auth*0121462 $a DC and RF measurements 650 04
$7 stu_us_auth*0098146 $a S-parameters 700 1-
$7 stu_us_auth*0047756 $a Dzuriš, Michal, $d 1998- $u 034000 $r Z3 $4 aut $9 20 $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektrotechniky $X 92398 $U E040 $Y 550 700 1-
$7 stu_us_auth*stu42398 $a Kováč, Jaroslav jr. $d 1977- $u 033000 $r Z1 $4 aut $9 10 $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 42526 $U E030 $Y 549 700 1-
$7 stu_us_auth*stu20358 $a Harťanský, René, $d 1969- $u 034000 $r Z1 $4 aut $9 10 $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektrotechniky $X 2588 $U E040 $Y 550 700 1-
$7 stu_us_auth*stu57774 $a Chvála, Aleš, $d 1981- $u 033000 $r Z1 $4 aut $9 10 $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 10315 $U E030 $Y 549 700 1-
$7 stu_us_auth*stu37942 $a Kováčová, Soňa, $d 1981- $u 033000 $r Z2 $4 aut $9 5 $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 5146 $U E030 $Y 549 700 1-
$7 stu_us_auth*stu9825 $a Kováč, Jaroslav, $d 1947- $u 033000 $r Z8 $4 aut $9 5 $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 2102 $U E030 $Y 549 773 0-
$w stu_us_cat*0110276 $t ADEPT 2024 $b 1. vyd. $h 171 s. $z 978-80-554-2109-4 $7 m2am $a International conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies (Adept 2024) $d Žilina : Vydavateľstvo EDIS, 2024 $g S. 49-52
Počet záznamov: 1