- Deep Level Transient Spectroscopy study of InAlGaN/GaN HEMT structures
Počet záznamov: 1  

Deep Level Transient Spectroscopy study of InAlGaN/GaN HEMT structures

  1. Údaje o názveDeep Level Transient Spectroscopy study of InAlGaN/GaN HEMT structures / aut. Matej Matuš, Jakub Drobný, Peter Benc, Martin Florovič, Sylvain Laurent Delage, Ľubica Stuchlíková
    Záhlavie-meno Matuš, Matej, 1997- (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Ďal.zodpovednosť Drobný, Jakub, 1994- (Autor)
    Benc, Peter, 1998- (Autor)
    Florovič, Martin, 1978- Z2 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Delage, Sylvain Laurent Z6 (Autor)
    Stuchlíková, Ľubica, 1967- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    In ADEPT 2023 [249 s.] / Jandura, Daniel. -- Žilina : Vydavateľstvo EDIS, 2023. -- ISBN 978-80-554-1977-0. -- S. 103-106
    Predmet.heslá GaN
    HEMT
    defects
    Deep Level Transient Spectroscopy
    Jazyk dok.angličtina
    Druh dok.RZB - článok zo zborníka
    KategóriaAFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    Kategória od 2022V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    Typ výstupupríspevok z podujatia
    Rok2023
    článok

    článok

Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.