Počet záznamov: 1  

Meranie impulzných charakteristík HEMT tranzistorov na čipe

  1. pulse measurement. large-signal model. HEMT. 2DEG. TDR. TDR. impulzné meranie. veľkosignálový model. GaN. 2DEGMašek, Dušan Meranie impulzných charakteristík HEMT tranzistorov na čipe. -- 2025. Šatka, Alexander

Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.