- Impact of sputtering power on trace impurities in binary oxides: A To…
Počet záznamov: 1  

Impact of sputtering power on trace impurities in binary oxides: A ToF-ERDA characterization study

  1. FERENČÍK, Filip et al. Impact of sputtering power on trace impurities in binary oxides: A ToF-ERDA characterization study. In DMSRE 2024 [Book of Abstracts] : Development of Materials Science in Research and Education, 33rd Joint Seminar, Tatranská Štrba, 9-13 September 2024. 1. vyd. Bratislava : FCHPT STU, 2024, S. 29. ISBN 978-80-8208-129-2 (printed).
Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.