- Impact of sputtering power on trace impurities in binary oxides: A To…
Počet záznamov: 1  

Impact of sputtering power on trace impurities in binary oxides: A ToF-ERDA characterization study

  1. Ferenčík, Filip, 1996- Impact of sputtering power on trace impurities in binary oxides: A ToF-ERDA characterization study / aut. Filip Ferenčík, Jozef Dobrovodský, Zoltán Száraz, Pavol Noga. Dobrovodský, Jozef, 1955-. Száraz, Zoltán, 1981-. Noga, Pavol, 1982- In: Behúlová, Mária. -- DMSRE 2024. -- 1. vyd.. -- 86 str.. -- 978-80-8208-129-2 (printed). -- Bratislava : FCHPT STU, 2024. -- S. 29.
Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.