Influence of annealing temperature on emission and capture processes in GaAsN/GaAs heterostructures /

Počet záznamov: 1

Influence of annealing temperature on emission and capture processes in GaAsN/GaAs heterostructures

Údaje o názve	Influence of annealing temperature on emission and capture processes in GaAsN/GaAs heterostructures / aut. Peter Benko, Arpád Kósa, Matej Matuš, Wojciech Dawidowski, Damian Radziewicz, Beata Sciana, Ľubica Stuchlíková
Záhlavie-meno	Benko, Peter, 1981- (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
Ďal.zodpovednosť	Kósa, Arpád, 1987- Z8 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
	Matuš, Matej, 1997- Z3 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
	Dawidowski, Wojciech (Autor)
	Radziewicz, Damian (Autor)
	Sciana, Beata (Autor)
	Stuchlíková, Ľubica, 1967- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
In	ASDAM 2022 [254 s.] / International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems (ASDAM 2022). -- Danvers : IEEE, 2022. -- ISBN 978-1-6654-6977-7. -- S. 17-20
Jazyk dok.	angličtina
URL	https://ieeexplore.ieee.org/document/9966749
Druh dok.	RZB - článok zo zborníka
Kategória	AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
Kategória od 2022	V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
Typ výstupu	príspevok z podujatia
V databázach
Rok	2022

článok

citace PRO

Počet záznamov: 1