Title information : HWCVD technology of silicon carbide thin films: Properties / aut. Jozef Huran, Miroslav Mikolášek, Pavol Boháček, Angela Kleinová, Vlasta Sasinková, Alexander P Kobzev, Mária Sekáčová, J Arbet Variant heading : \q12*stu_us_auth*1 stu58279 \q \q1013 stu_us_auth*stu58279 \d Huran Jozef \q  %continue : \q12*stu_us_auth*1 stu59072 \q \q1013 stu_us_auth*stu59072 \d Mikolášek Miroslav \q ; 033000 \q12*stu_us_auth*1 stu58273 \q \q1013 stu_us_auth*stu58273 \d Boháček Pavol \q \q12*stu_us_auth*1 stu119407 \q \q1013 stu_us_auth*stu119407 \d Kleinová Angela \q \q12*stu_us_auth*1 stu60811 \q \q1013 stu_us_auth*stu60811 \d Sasinková Vlasta \q \q12*stu_us_auth*1 stu58365 \q \q1013 stu_us_auth*stu58365 \d Kobzev Alexander P. \q \q12*stu_us_auth*1 stu58295 \q \q1013 stu_us_auth*stu58295 \d Sekáčová Mária \q \q12*stu_us_auth*1 0001357 \q \q1013 stu_us_auth*0001357 \d Arbet J. \q In : \q12**1 0005314 \q %continue : ADEPT 2015 : %continue : . S. 104-107 Subject : \q12*stu_us_auth*1 0006627 \q \q1013 stu_us_auth*0006627 \d SiC \q \q12*stu_us_auth*1 0006628 \q \q1013 stu_us_auth*0006628 \d HWCVD \q \q12*stu_us_auth*1 0006629 \q \q1013 stu_us_auth*0006629 \d structural and electrical characterization \q \q12*stu_us_auth*1 0006630 \q \q1013 stu_us_auth*0006630 \d solar structure \q Document kind : článok zo zborníka Category : AFD - Reports at home scientific conferences Category (from 2022) : V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka