Number of the records: 1
Impact of sputtering power on trace impurities in binary oxides: A ToF-ERDA characterization study
SYS 0111289 LBL 00000naa--22^^^^^-a-4500 003 SK-STU 005 20240918140706.5 007 ta 008 240918s^^^^-----------e------000-0-----d 035 $a biblio/1214686 $2 CREPC2 040 $a STU $b slo 041 0-
$a eng 100 1-
$7 stu_us_auth*0039864 $a Ferenčík, Filip, $d 1996- $u 067000 $4 aut $9 25 $r Z3 $U MTF Materiálovotechnologická fakulta $T MTF Ústav výskumu progresívnych technológií $X 85416 $U MN7000 $Y 87 245 10
$a Impact of sputtering power on trace impurities in binary oxides: A ToF-ERDA characterization study / $c aut. Filip Ferenčík, Jozef Dobrovodský, Zoltán Száraz, Pavol Noga 700 1-
$7 stu_us_auth*stu130168 $a Dobrovodský, Jozef, $d 1955- $u 067000 $r Z2 $4 aut $9 25 $U MTF Materiálovotechnologická fakulta $T MTF Ústav výskumu progresívnych technológií $X 41236 $U MN7000 $Y 87 700 1-
$7 stu_us_auth*stu36703 $a Száraz, Zoltán, $d 1981- $u 067000 $r Z2 $4 aut $9 25 $U MTF Materiálovotechnologická fakulta $T MTF Ústav výskumu progresívnych technológií $X 102099 $U MN7000 $Y 87 700 1-
$7 stu_us_auth*stu57324 $a Noga, Pavol, $d 1982- $u 067000 $r Z2 $4 aut $9 25 $U MTF Materiálovotechnologická fakulta $T MTF Ústav výskumu progresívnych technológií $X 10084 $U MN7000 $Y 87 773 0-
$w stu_us_cat*0111309 $a Behúlová, Mária $t DMSRE 2024 $b 1. vyd. $h 86 str. $z 978-80-8208-129-2 (printed) $7 p1am $d Bratislava : FCHPT STU, 2024 $g S. 29
Number of the records: 1