Number of the records: 1
Influence of annealing temperature on emission and capture processes in GaAsN/GaAs heterostructures
SYS 0098025 LBL 00000naa--22^^^^^-a-4500 003 SK-STU 005 20230111090657.8 007 ta 008 221103s^^^^-----------e------000-0-----d 024 7-
$2 DOI $a 10.1109/ASDAM55965.2022.9966749 024 7-
$2 IEEE $a 9966749 024 7-
$2 SCOPUS $a 2-s2.0-85144593783 035 $a biblio/525924 $2 CREPC2 040 $a STU $b slo 041 0-
$a eng 100 1-
$7 stu_us_auth*stu43466 $a Benko, Peter, $d 1981- $u 033000 $4 aut $r Z2 $9 35 $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 5148 $U E030 $Y 549 245 10
$a Influence of annealing temperature on emission and capture processes in GaAsN/GaAs heterostructures / $c aut. Peter Benko, Arpád Kósa, Matej Matuš, Wojciech Dawidowski, Damian Radziewicz, Beata Sciana, Ľubica Stuchlíková 700 1-
$7 stu_us_auth*stu108820 $a Kósa, Arpád, $d 1987- $u 033000 $r Z8 $4 aut $9 20 $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 50249 $U E030 $Y 549 700 1-
$7 stu_us_auth*0047581 $a Matuš, Matej, $d 1997- $u 033000 $r Z3 $4 aut $9 10 $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 92528 $U E030 $Y 549 700 1-
$7 stu_us_auth*stu119538 $a Dawidowski, Wojciech $4 aut $9 3 700 1-
$7 stu_us_auth*stu58418 $a Radziewicz, Damian $4 aut $9 3 700 1-
$7 stu_us_auth*stu58417 $a Sciana, Beata $4 aut $9 3 700 1-
$7 stu_us_auth*stu35674 $a Stuchlíková, Ľubica, $d 1967- $u 033000 $r Z1 $4 aut $9 26 $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 1997 $U E030 $Y 549 773 0-
$w stu_us_cat*0098022 $t ASDAM 2022 $b 1. ed.. $h 254 s. $z 978-1-6654-6977-7 $7 m2am $a International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems (ASDAM 2022) $d Danvers : IEEE, 2022 $g S. 17-20 856 4-
$u https://ieeexplore.ieee.org/document/9966749
Number of the records: 1