- Impact of sputtering power on trace impurities in binary oxides: A To…
Number of the records: 1  

Impact of sputtering power on trace impurities in binary oxides: A ToF-ERDA characterization study

  1. Title statementImpact of sputtering power on trace impurities in binary oxides: A ToF-ERDA characterization study / aut. Filip Ferenčík, Jozef Dobrovodský, Zoltán Száraz, Pavol Noga
    Main entry-name Ferenčík, Filip, 1996- (Author) - MTF Ústav výskumu progresívnych technológií
    Another responsib. Dobrovodský, Jozef, 1955- Z2 (Author) - MTF Ústav výskumu progresívnych technológií
    Száraz, Zoltán, 1981- Z2 (Author) - MTF Ústav výskumu progresívnych technológií
    Noga, Pavol, 1982- Z2 (Author) - MTF Ústav výskumu progresívnych technológií
    In DMSRE 2024 [86 str.] / Behúlová, Mária. -- Bratislava : FCHPT STU, 2024. -- ISBN 978-80-8208-129-2 (printed). -- S. 29
    LanguageEnglish
    Document kindRZB - článok zo zborníka
    CategoryBFB - Abstrakty odborných prác z domácich podujatí (konferencie...)
    Category (from 2022)O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníka
    Type of documentabstrakt z podujatia
    Year2024
    article

    article

Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.